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反射率测定仪
反射率测定仪
JBR-C84-III 反射率测定仪可用于漆膜遮盖力的测定和反射率的测量。

JBR-C84III 反射率测定仪该仪器完全符合国际标准ISO3906(E)、国际标准GB/T13452GB9270GB5211对该仪器的规定要求。

JBR-C84III 反射率测定仪主要技术参数

1.测量范围         0100

2.重复精度         0.3%

3.示值误差           ±1.0

4.显示数据与反射光强度成正比

5.仪器的光普灵敏度近似等于Sc(λ)y(λ)的乘积

6.环境温度  20℃±5  相对湿度<85%

7.输入电源  220V±10%  50Hz

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